<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">emjume</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Экономика и управление</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Economics and Management</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1998-1627</issn><issn pub-type="epub">3033-7984</issn><publisher><publisher-name>СПбУТУиЭ</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">emjume-216</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ, СИСТЕМНЫЙ АНАЛИЗ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>MATHEMATICAL MODELING, SYSTEM ANALYSIS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Экономика качества, метрология и фракталы</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Metrology, Fractals, and the Economics of Quality</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Литвинов</surname><given-names>Борис Яковлевич</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Litvinov</surname><given-names>Boris Ya.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Окрепилов</surname><given-names>Михаил Владимирович</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Okrepilov</surname><given-names>Mikhail V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Павлов</surname><given-names>Руслан Викторович</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pavlov</surname><given-names>Ruslan V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>All-Russian Research Institute of metrology of D. I. Mendeleyev</institution></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2017</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>08</month><year>2019</year></pub-date><volume>0</volume><issue>1</issue><fpage>58</fpage><lpage>63</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Литвинов Б.Я., Окрепилов М.В., Павлов Р.В., 2019</copyright-statement><copyright-year>2019</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Литвинов Б.Я., Окрепилов М.В., Павлов Р.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Litvinov B.Y., Okrepilov M.V., Pavlov R.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://emjume.elpub.ru/jour/article/view/216">https://emjume.elpub.ru/jour/article/view/216</self-uri><abstract><p>Исследование направлено на изучение особенностей развития системы обеспечения единства измерений как основного элемента экономики качества. Цель. Оценить перспективы применения фрактальных подходов к описанию системы обеспечения единства измерений. Задачи. Определить место метрологического центра в общей системе, обеспечивающей прослеживаемость, сопоставимость и совместимость результатов измерений с учетом обеспечения его жизнеспособности в условиях изменения внешних условий. Методология. Исследование проводилось с использованием общенаучных методов познания, результатов исследований российских и зарубежных ученых и на базе данных метрологических организаций Росстандарта. Результаты. Система обеспечения единства измерений обладает фрактальными свойствами, имеет несколько уровней дробления (вложенности) и по структуре аналогична системе электроснабжения предприятий. Как нерегулярный фрактал, метрологический центр представляет собой предприятие, которое оптимизирует себя с точки зрения осуществления производственного процесса и путей достижения целей. Структурно метрологический центр представляет собой объединение подсистем. Задачи, решаемые метрологическим центром, рассмотрены для уровня Государственных вторичных эталонов. Выводы. При развитии локальной системы передачи единицы величины необходимо силами самой организации обеспечивать жизнеспособность и динамику на основе постоянного анализа внутренних и внешних факторов.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>This study examines the specific features regarding the development of a uniformity measurement system as a key element of the economics of quality. Aim. This study evaluates the prospects of applying fractal approaches in the description of a uniformity measurement system. Tasks. This study determines the place of a metrological center in the overall system that ensures traceability, comparability, and compatibility of measurement results with due regard to its viability in the context of an altering external environment. Methods. This study employs general methods of scientific cognition, results of Russian and international research, and data provided by the metrological organizations of the Federal Agency on Technical Regulating and Metrology. Results. A uniformity measurement system has fractal properties, several levels of fragmentation (nesting), and a structure similar to a corporate power supply system. Being an irregular fractal, a metrological center is an enterprise that optimizes itself in terms of the production process and mechanisms for achieving goals. Structurally, a metrological center is a combination of subsystems. Problems solved by the metrological center are examined at the level of national secondary standards. Conclusion. While developing a local measurement unit transmission system, the organization should ensure viability and dynamics based on the continuous analysis of internal and external factors.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>fractal</kwd><kwd>metrological traceability</kwd><kwd>metrological center management</kwd><kwd>фрактал</kwd><kwd>метрологическая прослеживаемость</kwd><kwd>управление метрологическим центром</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Окрепилов В. В. Экономика качества как универсальный инструмент развития // Экономика качества. 2012. № 1 (1): [Электронный ресурс]. Режим доступа: http://eq-journal.ru/pdf/01/Окрепилов%20ВВ.pdf.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Окрепилов В. В. Экономика качества как универсальный инструмент развития // Экономика качества. 2012. № 1 (1): [Электронный ресурс]. Режим доступа: http://eq-journal.ru/pdf/01/Окрепилов%20ВВ.pdf.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Матвеев В. В., Окрепилов В. В. Экономические проблемы метрологии // Измерительная техника. 2016. № 2. С. 67-71.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Матвеев В. В., Окрепилов В. В. Экономические проблемы метрологии // Измерительная техника. 2016. № 2. С. 67-71.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Литвинов Б. Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники. СПб.: Изд-во СЗТУ, 2007. 154 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Литвинов Б. Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники. СПб.: Изд-во СЗТУ, 2007. 154 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Божокин С. В., Паршин Д. А. Фракталы и мультифракталы. Ижевск: НИЦ «Регулярная и хаотическая динамика», 2001. 128 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Божокин С. В., Паршин Д. А. Фракталы и мультифракталы. Ижевск: НИЦ «Регулярная и хаотическая динамика», 2001. 128 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Варнеке Х.-Ю. Революция в предпринимательской культуре. Фрактальное предприятие / Пер. с нем. М.: МАИК «Наука Интерпериодика», 1999. 280 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Варнеке Х.-Ю. Революция в предпринимательской культуре. Фрактальное предприятие / Пер. с нем. М.: МАИК «Наука Интерпериодика», 1999. 280 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кудрин Б. И. Введение в технетику. 2-е изд., перераб. и доп. Томск: Изд-во Томского гос. ун-та, 1993. 552 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кудрин Б. И. Введение в технетику. 2-е изд., перераб. и доп. Томск: Изд-во Томского гос. ун-та, 1993. 552 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кудрин Б. И. Три доклада строенной конференции. М.: Электрика, 2002. 136 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кудрин Б. И. Три доклада строенной конференции. М.: Электрика, 2002. 136 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">International equivalence of measurements: the CIPM MRA: [Электронный ресурс]. Режим доступа: www.bipm.org/en/cipm-mra/. (Дата обращения: 29.12.2016).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">International equivalence of measurements: the CIPM MRA: [Электронный ресурс]. Режим доступа: www.bipm.org/en/cipm-mra/. (Дата обращения: 29.12.2016).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">РМГ 29-2013 ГСИ. Метрология. Основные термины и определения. Дата введения: 2015-01-01: [Электронный ресурс]. Режим доступа: http://docs.cntd.ru/document/1200115154.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">РМГ 29-2013 ГСИ. Метрология. Основные термины и определения. Дата введения: 2015-01-01: [Электронный ресурс]. Режим доступа: http://docs.cntd.ru/document/1200115154.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
